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產品名稱
工業CT掃描工作站 XT H 225系列 X射線測量裝置尼康Nikon檢測儀器
編號
Nikon03
數量
-
+
產品描述
規格屬性
工業CT掃描工作站
XT H 225系列
在零件內部組裝的信息獲取與測定，質量管理，故障分析，材料研究等應用中不可缺少。裝備了225kV微焦點X射線源的XTH225系列，帶給我們高清晰度的X光圖像以及CT圖像。
主要特點
高速旋轉靶（選配件）可以使X射線束增幅達到五倍，實現在同一掃描時間內CT數據精度更高，CT數據獲取也更加快速。
• 225kV的強力射線管（選配旋轉靶）
• 實時的X射線可視化，迅速的CT 數據重構
• 完全可編程化的5軸操作樣品臺
• 可自定義宏讓檢測工作流程自動化
• 針對多用途設計的3種不同大小的鉛房防護外殼（標準，ST，LC）
• 實時的X射線可視化，迅速的CT 數據重構
• 完全可編程化的5軸操作樣品臺
• 可自定義宏讓檢測工作流程自動化
• 針對多用途設計的3種不同大小的鉛房防護外殼（標準，ST，LC）
引進功能
• 將靈活性整合到一個系統里:X射線快速可視化檢測，CT重構精密解析
• 快速獲取高品質圖像
• 人機交互式操作桿導航界面使用快速直觀
• 高清晰度數字圖像與圖像處理
• 不需要特別外加防護的完備安全系統
• 通用于業界標準的后處理應用格式
• 快速獲取高品質圖像
• 人機交互式操作桿導航界面使用快速直觀
• 高清晰度數字圖像與圖像處理
• 不需要特別外加防護的完備安全系統
• 通用于業界標準的后處理應用格式
用途
• 精密的塑料零件，小型鑄件，復雜的機械裝置、CAD實物比對等等的評價與測定
• 詳細的故障原因分析
• 材料學研究與生物學的構造分析
• 模型的數據轉換與保存
• 組裝裝配的問題分析
• 詳細的故障原因分析
• 材料學研究與生物學的構造分析
• 模型的數據轉換與保存
• 組裝裝配的問題分析
XT H 225 X射線和CT檢測系統，可供工業應用工業零部件內外全檢
外部零件和總成特征的詳細測量對于質量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系統可提供X射線源，大檢測體積和較高的X射線和CT成像分辨率。
XT H 系統可采用225kV電源，可選用旋轉目標，適合于各種應用，包括小鑄件檢測、塑料件及材料研究。
XT H 系統可采用225kV電源，可選用旋轉目標，適合于各種應用，包括小鑄件檢測、塑料件及材料研究。
系統技術指標
5µm 焦斑反射目標X射線源，25～225 kV，0～2000 µA（非連續）60或225W。
10kg 容量五軸可編程操縱器。
掃描范圍：250 x 330mm。
幾何放大倍數：160x.
系統放大倍數：400x。
特征識別分辨率：最低1µm。
外機柜尺寸：2030mm L，925mm D，2000mm H。
全套系統控制和圖像處理軟件。
10kg 容量五軸可編程操縱器。
掃描范圍：250 x 330mm。
幾何放大倍數：160x.
系統放大倍數：400x。
特征識別分辨率：最低1µm。
外機柜尺寸：2030mm L，925mm D，2000mm H。
全套系統控制和圖像處理軟件。
XT V 160 X射線檢查系統工業CT檢測儀電子元器件質量檢驗裝置尼康
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